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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
配架場所 |
請求記号 |
資料番号 |
資料種別 |
状態 |
個人貸出 |
在庫
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1 |
西部図書館 | 一般書庫 | 54997/10/ | 1102164929 | 一般 | 在庫 | 可 |
○ |
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1000001956513 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
走査プローブ顕微鏡 |
書名ヨミ |
ソウサ プローブ ケンビキョウ |
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正しい実験とデータ解析のために必要なこと |
叢書名 |
実験物理科学シリーズ
|
叢書番号 |
6 |
言語区分 |
日本語 |
著者名 |
重川 秀実/責任編集
吉村 雅満/責任編集
河津 璋/責任編集
|
著者名ヨミ |
シゲカワ ヒデミ ヨシムラ マサミチ カワズ アキラ |
出版地 |
東京 |
出版者 |
共立出版
|
出版年月 |
2009.3 |
本体価格 |
¥9000 |
ISBN |
978-4-320-03381-8 |
ISBN |
4-320-03381-8 |
数量 |
24,425p |
大きさ |
22cm |
分類記号 |
549.97
|
件名 |
走査型プローブ顕微鏡
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注記 |
文献:章末 |
内容紹介 |
プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいことや、プローブ顕微鏡の仕組み・周辺技術といった基礎的事項を説明。また、探針作製・評価、試料作製法、STS測定などの実践を解説する。分野ごとの先端技術も紹介。 |
著者紹介 |
工学博士。筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻教授。 |
内容細目
No. |
内容タイトル |
内容著者1 |
内容著者2 |
内容著者3 |
内容著者4 |
1 |
基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に |
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2 |
Ⅰ.プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいこと |
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3 |
第1章 回路を理解するための基礎 |
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4 |
1.1 制御の基礎 |
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5 |
1.2 エレクトロニクス |
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6 |
文献 |
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7 |
第2章 信号を取り出すための基礎 |
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8 |
2.1 信号測定の基礎 |
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9 |
2.2 雑音の基礎 |
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10 |
2.3 微小信号・ロックイン計測 |
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11 |
文献 |
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12 |
第3章 振動を扱うための基礎 |
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13 |
3.1 振動の運動方程式 |
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14 |
3.2 カンチレバーにおける共振曲線 |
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15 |
文献 |
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16 |
基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に |
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17 |
Ⅱ.プローブ顕微鏡の基礎 |
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18 |
第1章 プローブ顕微鏡の仕組み |
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19 |
1.1 プローブ顕微鏡の動作原理 |
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20 |
1.2 探針(または試料)位置の制御 |
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21 |
1.3 除振について |
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22 |
文献 |
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23 |
第2章 プローブ顕微鏡のファミリー |
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24 |
2.1 各種プローブで得られる情報と分解能 |
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25 |
2.2 同じプローブでも-測定方法による違い- |
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26 |
文献 |
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27 |
第3章 スペクトル測定の原理と留意点 |
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28 |
3.1 トンネル分光 |
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29 |
3.2 力の分光 |
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30 |
文献 |
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31 |
第4章 周辺技術 |
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32 |
4.1 真空の作り方と測り方 |
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33 |
4.2 温度可変観察 |
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34 |
4.3 薬品を扱うために |
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35 |
4.4 その他の技術 |
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36 |
文献 |
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37 |
実践編 プローブ顕微鏡の使い方 |
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38 |
第1章 探針の作製と評価 |
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39 |
1.1 はじめに |
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40 |
1.2 探針の種類 |
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41 |
1.3 アーティファクト |
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42 |
1.4 探針先端の評価 |
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43 |
1.5 カーボンナノチューブ探針 |
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44 |
文献 |
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45 |
第2章 試料の作り方・扱い方 |
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46 |
2.1 金属酸化物試料の扱い |
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47 |
2.2 平坦な金属基板の作製 |
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48 |
2.3 有機分子試料測定のために |
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49 |
2.4 自己組織化膜の作り方 |
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50 |
2.5 バイオ試料の扱い |
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51 |
文献 |
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52 |
第3章 信号の取り方 |
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53 |
3.1 測定に必要なパラメータ |
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54 |
3.2 測定条件と参照信号値の選択 |
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55 |
3.3 変調測定:変調の種類と得られるデータ |
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56 |
3.4 外部同期を使うとできること |
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57 |
文献 |
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58 |
第4章 データ解析の方法 |
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59 |
4.1 はじめに |
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60 |
4.2 SPMデータの歪み |
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61 |
4.3 雑音の低減 |
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62 |
4.4 明るさ軸の調整 |
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63 |
4.5 物理量を引き出すために |
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64 |
4.6 その他の解析手法 |
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65 |
文献 |
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66 |
第5章 SPMの理論シミュレーション法とその応用 |
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67 |
5.1 はじめに |
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68 |
5.2 STMシミュレーション法の原理 |
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69 |
5.3 非接触AFMシミュレーション法の原理 |
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70 |
5.4 液中AFM法の原理 |
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71 |
5.5 タンパク質AFMシミュレーション |
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72 |
5.6 探針の設計と解析 |
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73 |
5.7 おわりに |
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74 |
文献 |
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75 |
発展編 よりレベルの高い使い方をするための先端技術 |
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76 |
第1章 溶液中の計測 |
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77 |
1.1 電気化学STM |
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78 |
1.2 溶液環境におけるAFM測定 |
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79 |
文献 |
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80 |
第2章 生体材料計測 |
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81 |
2.1 生体材料のプローブ顕微鏡計測でわかること |
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82 |
2.2 AFM・高速測定 |
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83 |
文献 |
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84 |
第3章 高分子の弾性計測 |
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85 |
3.1 はじめに |
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86 |
3.2 ヘルツ接触 |
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87 |
3.3 JKR接触 |
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88 |
3.4 おわりに |
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89 |
文献 |
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90 |
第4章 デバイス特性評価への応用 |
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91 |
4.1 はじめに |
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92 |
4.2 不純物分布の観察 |
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93 |
4.3 半導体試料内の電位分布の観察 |
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94 |
4.4 電流フローの観測 |
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95 |
4.5 おわりに |
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96 |
文献 |
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97 |
第5章 化学反応を観る |
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98 |
5.1 はじめに |
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99 |
5.2 STMを用いた実験方法 |
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100 |
5.3 おわりに |
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101 |
文献 |
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102 |
第6章 相転移を観る |
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103 |
6.1 はじめに |
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104 |
6.2 低温測定 |
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105 |
6.3 おわりに |
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106 |
文献 |
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107 |
第7章 スピンを測る |
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108 |
7.1 はじめに |
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109 |
7.2 SP-STMでスピンを見るための実験技術 |
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110 |
7.3 交換相互作用力顕微鏡 |
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111 |
おわりに |
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112 |
文献 |
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113 |
第8章 微細加工とSPM |
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114 |
8.1 はじめに |
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115 |
8.2 SPMによる加工法 |
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116 |
8.3 SPM用カンチレバーに関連した加工法 |
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117 |
8.4 おわりに |
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118 |
文献 |
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119 |
第9章 ステップインモード計測 |
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120 |
9.1 はじめに |
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121 |
9.2 AFM計測の課題 |
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122 |
9.3 動作原理 |
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123 |
9.4 測定例 |
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124 |
9.5 おわりに |
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125 |
文献 |
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126 |
第10章 非接触AFMの展開 |
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127 |
10.1 はじめに |
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128 |
10.2 探針-試料間の相互作用の解析の試み |
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129 |
10.3 印加電圧に依存する相互作用力の考察 |
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130 |
10.4 おわりに |
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131 |
文献 |
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132 |
第11章 光技術との融合 |
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133 |
11.1 NSOMの展開 |
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134 |
11.2 STM発光分光 |
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135 |
11.3 光STM |
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136 |
文献 |
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137 |
第12章 走査型アトムプローブ |
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138 |
12.1 はじめに |
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139 |
12.2 原理と構造 |
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140 |
12.3 分析例 |
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141 |
12.4 他の分析器との比較 |
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142 |
12.5 おわりに |
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143 |
文献 |
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144 |
第13章 マルチプローブ計測 |
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145 |
13.1 はじめに |
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146 |
13.2 4探針STM装置の概要 |
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147 |
13.3 4探針STMでの技術的課題 |
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148 |
13.4 温度可変4探針STM装置 |
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149 |
13.5 おわりに |
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150 |
文献 |
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151 |
第14章 原子・分子操作 |
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152 |
14.1 はじめに |
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153 |
14.2 固体電解質探針と原子スイッチ |
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154 |
14.3 STM誘起連鎖重合反応 |
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155 |
14.4 おわりに |
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156 |
文献 |
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関連資料
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