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書誌情報サマリ

書名

走査プローブ顕微鏡 

著者名 重川 秀実/責任編集
著者名ヨミ シゲカワ ヒデミ
出版者 共立出版
出版年月 2009.3


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No. 所蔵館 配架場所 請求記号 資料番号 資料種別 状態 個人貸出 在庫
1 西部図書館一般書庫54997/10/1102164929一般在庫 

書誌詳細

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タイトルコード 1000001956513
書誌種別 図書
書名 走査プローブ顕微鏡 
書名ヨミ ソウサ プローブ ケンビキョウ
正しい実験とデータ解析のために必要なこと
叢書名 実験物理科学シリーズ
叢書番号 6
言語区分 日本語
著者名 重川 秀実/責任編集   吉村 雅満/責任編集   河津 璋/責任編集
著者名ヨミ シゲカワ ヒデミ ヨシムラ マサミチ カワズ アキラ
出版地 東京
出版者 共立出版
出版年月 2009.3
本体価格 ¥9000
ISBN 978-4-320-03381-8
ISBN 4-320-03381-8
数量 24,425p
大きさ 22cm
分類記号 549.97
件名 走査型プローブ顕微鏡
注記 文献:章末
内容紹介 プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいことや、プローブ顕微鏡の仕組み・周辺技術といった基礎的事項を説明。また、探針作製・評価、試料作製法、STS測定などの実践を解説する。分野ごとの先端技術も紹介。
著者紹介 工学博士。筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻教授。



内容細目

No. 内容タイトル 内容著者1 内容著者2 内容著者3 内容著者4
1 基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に
2 Ⅰ.プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいこと
3 第1章 回路を理解するための基礎
4 1.1 制御の基礎
5 1.2 エレクトロニクス
6 文献
7 第2章 信号を取り出すための基礎
8 2.1 信号測定の基礎
9 2.2 雑音の基礎
10 2.3 微小信号・ロックイン計測
11 文献
12 第3章 振動を扱うための基礎
13 3.1 振動の運動方程式
14 3.2 カンチレバーにおける共振曲線
15 文献
16 基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に
17 Ⅱ.プローブ顕微鏡の基礎
18 第1章 プローブ顕微鏡の仕組み
19 1.1 プローブ顕微鏡の動作原理
20 1.2 探針(または試料)位置の制御
21 1.3 除振について
22 文献
23 第2章 プローブ顕微鏡のファミリー
24 2.1 各種プローブで得られる情報と分解能
25 2.2 同じプローブでも-測定方法による違い-
26 文献
27 第3章 スペクトル測定の原理と留意点
28 3.1 トンネル分光
29 3.2 力の分光
30 文献
31 第4章 周辺技術
32 4.1 真空の作り方と測り方
33 4.2 温度可変観察
34 4.3 薬品を扱うために
35 4.4 その他の技術
36 文献
37 実践編 プローブ顕微鏡の使い方
38 第1章 探針の作製と評価
39 1.1 はじめに
40 1.2 探針の種類
41 1.3 アーティファクト
42 1.4 探針先端の評価
43 1.5 カーボンナノチューブ探針
44 文献
45 第2章 試料の作り方・扱い方
46 2.1 金属酸化物試料の扱い
47 2.2 平坦な金属基板の作製
48 2.3 有機分子試料測定のために
49 2.4 自己組織化膜の作り方
50 2.5 バイオ試料の扱い
51 文献
52 第3章 信号の取り方
53 3.1 測定に必要なパラメータ
54 3.2 測定条件と参照信号値の選択
55 3.3 変調測定:変調の種類と得られるデータ
56 3.4 外部同期を使うとできること
57 文献
58 第4章 データ解析の方法
59 4.1 はじめに
60 4.2 SPMデータの歪み
61 4.3 雑音の低減
62 4.4 明るさ軸の調整
63 4.5 物理量を引き出すために
64 4.6 その他の解析手法
65 文献
66 第5章 SPMの理論シミュレーション法とその応用
67 5.1 はじめに
68 5.2 STMシミュレーション法の原理
69 5.3 非接触AFMシミュレーション法の原理
70 5.4 液中AFM法の原理
71 5.5 タンパク質AFMシミュレーション
72 5.6 探針の設計と解析
73 5.7 おわりに
74 文献
75 発展編 よりレベルの高い使い方をするための先端技術
76 第1章 溶液中の計測
77 1.1 電気化学STM
78 1.2 溶液環境におけるAFM測定
79 文献
80 第2章 生体材料計測
81 2.1 生体材料のプローブ顕微鏡計測でわかること
82 2.2 AFM・高速測定
83 文献
84 第3章 高分子の弾性計測
85 3.1 はじめに
86 3.2 ヘルツ接触
87 3.3 JKR接触
88 3.4 おわりに
89 文献
90 第4章 デバイス特性評価への応用
91 4.1 はじめに
92 4.2 不純物分布の観察
93 4.3 半導体試料内の電位分布の観察
94 4.4 電流フローの観測
95 4.5 おわりに
96 文献
97 第5章 化学反応を観る
98 5.1 はじめに
99 5.2 STMを用いた実験方法
100 5.3 おわりに
101 文献
102 第6章 相転移を観る
103 6.1 はじめに
104 6.2 低温測定
105 6.3 おわりに
106 文献
107 第7章 スピンを測る
108 7.1 はじめに
109 7.2 SP-STMでスピンを見るための実験技術
110 7.3 交換相互作用力顕微鏡
111 おわりに
112 文献
113 第8章 微細加工とSPM
114 8.1 はじめに
115 8.2 SPMによる加工法
116 8.3 SPM用カンチレバーに関連した加工法
117 8.4 おわりに
118 文献
119 第9章 ステップインモード計測
120 9.1 はじめに
121 9.2 AFM計測の課題
122 9.3 動作原理
123 9.4 測定例
124 9.5 おわりに
125 文献
126 第10章 非接触AFMの展開
127 10.1 はじめに
128 10.2 探針-試料間の相互作用の解析の試み
129 10.3 印加電圧に依存する相互作用力の考察
130 10.4 おわりに
131 文献
132 第11章 光技術との融合
133 11.1 NSOMの展開
134 11.2 STM発光分光
135 11.3 光STM
136 文献
137 第12章 走査型アトムプローブ
138 12.1 はじめに
139 12.2 原理と構造
140 12.3 分析例
141 12.4 他の分析器との比較
142 12.5 おわりに
143 文献
144 第13章 マルチプローブ計測
145 13.1 はじめに
146 13.2 4探針STM装置の概要
147 13.3 4探針STMでの技術的課題
148 13.4 温度可変4探針STM装置
149 13.5 おわりに
150 文献
151 第14章 原子・分子操作
152 14.1 はじめに
153 14.2 固体電解質探針と原子スイッチ
154 14.3 STM誘起連鎖重合反応
155 14.4 おわりに
156 文献

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2009
549.97
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